高溫老化試驗
高溫老化試驗 項目介紹
高溫老化測試是電子產品制造過程中不可或缺的一環，主要目的是通過模擬高溫、惡劣的工作環境，檢驗產品在實際使用中可能遇到的各種問題。通過這種測試，制造商可以預測產品的使用壽命，發現并解決潛在的缺陷和隱患。
高溫老化測試的標準通常包括環境溫度、溫度升降速率和老化時間三個主要因素。同時，環境濕度和產品的散熱效果也是測試中需要特別注意的因素。
高溫老化測試是針對高性能電子產品（如：計算機整機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器等）模擬高溫、惡劣環境的可靠性測試，是提高產品穩定性、可靠性的重要手段、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程。
高溫老化試驗 試驗范圍
1. 計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫療設備等精密儀器等
2. 電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。
3. 電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備；
4. 其他：包裝箱、運輸設備等。
高溫老化試驗 試驗標準
JJF 156-2017 電容器高溫老化系統校準規范
JJF 1179-2007 集成電路高溫動態老化系統校準規范
JJG 91-2015 ELEA－JVLSI高溫動態老化系統校驗規程
GB/T 32368-2015 膠粘帶耐高溫高濕老化的試驗方法
QJ 2328A-2005 復合固體推進劑高溫加速老化試驗方法
ASTM D573-2004 橡膠的標準試驗方法 熱空氣干燥爐中測定橡膠變質
ASTM D865-2005 空氣中加熱橡膠劣化的標準試驗方法(試管外殼)
ISO188-2007 硫化橡膠或熱塑性橡膠.加速老化和耐熱試驗
DIN 53508-2000 橡膠試驗.加速老化
GB/T 3512-2001 硫化橡膠或熱塑性橡膠 熱空氣加速老化和耐熱試驗
ASTM D3045-2003 無負荷塑料熱老化規程
GB/T 7141-2008 塑料熱老化試驗方法
