掃描電鏡分析
掃描電鏡分析 分析介紹
掃描電子顯微鏡(SEM)分析是一種利用高能電子束掃描樣品表面，并通過收集和分析產生的各種電子信號（如二次電子、背散射電子、特征X射線等）來表征物質微觀形貌和成分的技術。
掃描電子顯微鏡能夠提供高分辨率的圖像，并可用于研究樣品的表面形狀、結構和尺寸，以及分析樣品的化學成分和結構。此外，掃描電子顯微鏡還可以觀察到樣品表面的微觀不平整結構，甚至可以用于檢測表面的缺陷，如裂紋、劃痕、空洞和腐蝕。這種技術在材料科學、物理學、化學、生物學、考古學、地質學和微電子工業等領域有著廣泛的應用。
掃描電鏡分析 分析范圍
在石油、地質、礦物領域，電子、半導體領域，醫學、生物學領域，化工、高分子材料領域，公安刑偵工作領域，以及農、林業等方面。
掃描電鏡分析 分析特點
1能夠直接觀察樣品表面的微觀結構，樣品制備過程簡單，對樣品的形狀沒有任何限制，粗糙表面也可以直接觀察；
2樣品在樣品室中可動的自由度非常大，可以作三度空間的平移和旋轉，這對觀察不規則形狀樣品的各個區域細節帶來了方便；
3圖象富有立體感。掃描電鏡的景深是光學顯微鏡的數百倍，是透射電鏡的數十倍，故所得到的圖象立體感比較強；
4放大倍數范圍大，從幾倍到幾十萬倍連續可調。分辨率也比較高，介于光學顯微鏡和透射電鏡之間；
5電子束對樣品的損傷與污染程度小。由于掃描電鏡電子束束流小，且不是固定一點照射樣品表面，而是以光柵掃描方式照射樣品，所以對樣品的損傷與污染程度比較小；
6在觀察樣品微觀形貌的同時，還可以利用從樣品發出的其它物理信號作相應的分析，如微區成分分析。如果在樣品室內安裝加熱、冷卻、彎曲、拉伸等附件，則可以觀察相變、斷裂等動態的變化過程。
掃描電鏡分析 分析標準
GB/T 14593-2008 山羊絨、綿羊毛及其混合纖維定量分析方法 掃描電鏡法
GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數的測定方法
GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評定和統計 掃描電鏡法
GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
GB/T 36422-2018 化學纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
GB/T 38783-2020 貴金屬復合材料覆層厚度的掃描電鏡測定方法
GB/T 40905.2-2022 紡織品 山羊絨、綿羊毛、其他特種動物纖維及其混合物定量分析 第2部分：掃描電鏡法
YS/T 1491-2021 鎳基高溫合金粉末球形率測定方法 掃描電鏡法
掃描電鏡分析 服務優勢
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