X熒光光譜儀測試
X熒光光譜儀測試 測試介紹
X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。
X射線熒光光譜儀分析元素范圍從4號元素Be到92號U元素，主要是針對固體、液體分析，很難分析氣體，所以惰性氣體不屬于X射線熒光光譜儀分析范疇。中科檢測具備X熒光光譜儀測試資質能力，可以出具CMA、CNAS檢測報告。X熒光光譜儀測試 檢測范圍
1、涂層成分和厚度分析
X射線熒光光譜儀可以準確檢測多層，即多層合金的厚度和成分、上下元素的重復鍍層、輕元素和有機物的鍍層和滲透層。
2、環境檢測解決方案
X射線熒光光譜儀可以檢測多種重金屬和有害元素，檢測的檢出限可以達到1ppm以下。
3、全要素分析
X射線熒光光譜儀可以分析各種合金、礦石、土壤、珠寶等的元素組成，可以檢測各種常見的貴金屬和稀土。適用于廣泛的行業，無論是電鍍、5G通訊、新能源、五金建材、半導體、地礦、珠寶、汽車，還是高精密電子、芯片、航空航天等行業。
X熒光光譜儀測試 測試標準
GB/T 41497-2022 釩鐵 釩、硅、磷、錳、鋁、鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法
GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化學分析方法 第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第30部分：微量元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法
GB/T 40915-2021 X射線熒光光譜法測定鈉鈣硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量
GB/T 5687.13-2021 鉻鐵 鉻、硅、錳、鈦、釩和鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40312-2021 磷鐵 磷、硅、錳和鈦含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40311-2021 釩渣 多元素的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定硅片表面元素污染
GB/T 39560.301-2020 電子電氣產品中某些物質的測定 第3-1部分：X射線熒光光譜法篩選鉛、汞、鎘、總鉻和總溴
GB/T 8151.22-2020 鋅精礦化學分析方法 第22部分：鋅、銅、鉛、鐵、鋁、鈣和鎂含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法
X熒光光譜儀測試 測試流程
咨詢溝通（確定檢測需求）→商定檢測方案并報價（溝通測定測試方案并報價）→付款并寄樣（簽訂委托協議書，付款并寄送樣品）→按照方案測試完成測試（試驗、分析測試及電子報告確定）→寄送樣品（寄送紙質版報告、發票及樣品）
X熒光光譜儀測試 報告用途
1.招投標-部門、事業單位招投標；
2.進入大型超市或賣場，各大網上商城；
3.審核證明，申請補助；
4.工商質檢與市場監督；
5.國內市場銷售、資質認定；
6.項目驗收等；
