元素分析是研究有機化合物中元素組成的化學分析方法。分為定性、定量兩種。元素分析測試方法有哪幾種？元素分析測試中心有哪些？下面跟著中科檢測小編來了解。
元素分析測試中心
中科檢測是國科控股旗下獨立的第三方檢測機構，通過了檢驗檢測機構資質認定(CMA)、中國合格評定國家認可委員實驗室認可(CNAS)；擁有各種大型分析儀器，主要從事各種檢測與表征，以及有關的方法學研究和應用研究工作，包括組成分析、結構分析和形態分析，提供專業分析測試服務。
元素分析測試方法
能譜儀：EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。
X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應當電子空位。
這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。
辦理元素分析測試報告，具體測試方法及費用可以咨詢中科檢測工程師了解，中科檢測嚴格按照相關測試方法要求分析。
